硅膠O型密封圈槽設計
發布日期:2022-01-06
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硅膠O型密封圈槽設計
（1） 槽的設計原則
槽的尺寸、截面積必需和襯墊變形量相適應，設計原則是：槽的截面積 > 襯墊的截面積。此 設計有利于襯墊壓縮后能完全容納在槽內（平墊除外），使槽的沿和蓋板緊密接觸，其作用是： 限位：防止襯墊過壓，有利于襯墊使用壽命； EMC：蓋板與底座的緊密接觸有利于EMC和EMP（電磁脈沖釋放）。
（2） 槽深
槽深的尺寸是由襯墊的外形和壓縮量決定的。影響襯墊壓縮量的因素主要由： ? 襯墊的外形（截面形狀） ?
接合面不平度公差愈大，壓縮量應增大； ?
螺孔的間距愈大，壓縮量應增大。
常用的O形、D型圈襯墊壓縮量控制在18～25％，最大不超過30％（低溫環境使用時壓縮量盡量設計到30%，壓縮量的設計要考慮槽及O型圈的公差問題。空心結構和泡沫襯墊壓縮量通常在50％）。
以O形圈為例：
槽深 H＝襯墊直徑（或高度）×（1-襯墊壓縮率％） 簡化成： H＝O形圈直徑×0.75
（3） 槽寬
當槽深H確定后，槽寬W是H的函數，通常變化不會太大。由于槽寬將影響到模塊外形尺寸，設計師對W尺寸會精打細算。
槽寬W＝O形圈截面積/H（槽深）×（110％～120％） 系數110～120％是控制槽的裕量以保證襯墊能完全容納在槽內。
槽及螺栓孔的精度
法蘭上槽的公差（槽深或槽寬）應控制在0.05毫米以內，以保證槽的截面積相對于襯墊的截面積有≥10％的裕量。保證槽對襯墊壓縮后的限位保護作用。
螺孔的位置公差，應保證在0.13毫米以內，對沖壓或鑄件孔可放寬到0.2毫米。
（4） 控制槽、膠圈公差時，應遵循的原則由于O型，D型圈在長度方向，極易變形，因此在控制槽及膠圈公 差時，應遵循下述原則： ?
膠圈長度取負公差 膠圈的長度≤槽的長度，通常膠圈的負公差控制在-0.5％～-1％（如 圈的長度大于槽的長度將導致膠圈在槽內過容，彎曲甚至無法裝配）。 ?
當槽尺寸為A時（長度），膠圈的長度公差應標為 B0-C
C=A×0.5％～1％ 反之，如膠圈尺寸已確定，設計槽時，應取正公差.
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